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上海恒平紫外可見分光光度計754

上海恒平紫外可見分光光度計754

市場價:¥14000
波長范圍:190~1100 nm
光譜帶寬:4 nm
波長精度:±1 nm
上海恒平紫外可見分光光度計754 產品說明 產品介紹:
本產品適用于對紫外、可見光譜區域內物質的含量進行定量分析,可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業、食品、生化、環保、石油化工、醫療衛生及各科研等單位實驗室。
自動波長,鍵盤輸入,波長設定和轉換更快速。一階過零、一階線性標準曲線測試,最多可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合,濃度直讀,可保存50條曲線參數。濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能,可保存200條測試記錄。系統時鐘管理,暗電流校正,波長校正,USB數據接口,燈切換波長設置。

技術參數:

型號

754

單色器

C-T式單色器,1200線全息光柵

檢測器

硅光二極管

顯示器

128×64大屏幕液晶顯示

光源

鹵鎢燈20W/12V,氘燈,光源切換波長可設定

光譜帶寬

4nm

波長范圍

190~1100nm(步進間隔0.1nm)

波長最大允許誤差

±1.0nm(開機自動校準)

波長重復性

≤0.5nm

測定范圍

T:-1.0~200.0%T ,A:-0.5~3.000Abs,F:0~9999,C:0~9999

透射比最大允許誤差

±0.5%T

透射比重復性

≤0.2%T

雜散光

≤0.3%T(在220、360nm處)

穩定性/噪聲

暗電流<0.2%T 、亮電流<0.5%T

數據輸出

USB接口,LPT并行打印接口

電源

220V±10%  50Hz,70W

外形尺寸

456×375×220 mm

凈重

17.5kg

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